ARAŞTIRMA
Bilimsel Yayınlar
Mustafa Eryılmaz'ın yazarı ya da yazarlarından biri olduğu yayınlar
Tür | Uluslararası yayın | Ulusal yayın | Toplam |
Konferans bildirisi | 1 | 1 | |
Toplam: | 1 | 0 | 1 |
# | Başlık | Yayın | Yazar(lar) | Tür | SCI, SSCI, AHCI veya EI? | Yıl |
---|---|---|---|---|---|---|
1 | Defect Classification from Electronic Card Images by Deep Learning | 2020 28th Signal Processing and Communications Applications Conference (SIU) | M. Eryılmaz, M. Çil, S. Aktürk, M. Tileği, H. Tırak, A. Yılmaz, S.E. Yüksel, D. Gökcen | Konferans bildirisi | Mayıs 2022 |